Обложка работы «Анализ ключевых характеристик методов локальной диагностики полупроводников - метода наведенного рентгеновским пучком тока и рентгеновского флуоресцентного метода». Автор: Шабельникова, Яна Леонидовна. Степень: Канд. наук. Год: 2013

Анализ ключевых характеристик методов локальной диагностики полупроводников - метода наведенного рентгеновским пучком тока и рентгеновского флуоресцентного метода

Московский государственный университет им. М.В. Ломоносова (МГУ), Москва

155 стр.

Анализ ключевых характеристик методов локальной диагностики полупроводников - метода наведенного рентгеновским пучком тока и рентгеновского флуоресцентного метода — Шабельникова, Яна Леонидовна — 2013 — Российская библиотека диссертаций