Анализ протяженной тонкой структуры спектров потерь энергии электронов (EELFS) для определения атомной структуры поверхности твердых тел

Москва

20 стр.

Анализ протяженной тонкой структуры спектров потерь энергии электронов (EELFS) для определения атомной структуры поверхности твердых тел — Вайнштейн, Дмитрий Львович — 2000 — Российская библиотека диссертаций