Development of tools increasing quality assurance efficiency for built-in self test solutions in nanoscale SOC : synopsis … candidate of technical sciences : speciality 05.27.01 Electronics, microelectronics and nano-electronics

National polytechnic university of Armenia, Yerevan

24 стр.

Ключевые слова

интегральные схемы - надежность, запоминающие устройства, встроенные системы тестирования и ремонта запоминающих устройств, системы тестирования с разделяемым интерфейсом

Development of tools increasing quality assurance efficiency for built-in self test solutions in nanoscale SOC : synopsis … candidate of technical sciences : speciality 05.27.01 Electronics, microelectronics and nano-electronics — Babayan, Armen Vrezh — 2024 — Российская библиотека диссертаций