Электронная плотность и свойства кристаллов по рентгеновским дифракционным данным
Цирельсон, Владимир Григорьевич, 1988, докторская диссертация
Алма-Ата
309 стр.
Другие работы по этой специальности
- Структурные механизмы фазовых переходов и макроскопические отклики многоподрешеточных кристаллов с различным проявлением атомного порядка
Таланов, Михаил Валерьевич · 2020 · Докт. наук · ФГАОУ ВО «Южный федеральный университет»
- Времяразрешающая рентгенодифракционная диагностика перспективных кристаллических материалов
Элиович, Ян Александрович · 2019 · Канд. наук · ФГУ «Федеральный научно-исследовательский центр «Кристаллография и фотоника» Российской академии наук»
- Особенности структуры кристаллов системы K3H(SO4)2 - (NH4)3H(SO4)2 - H2O и влияние катионного замещения на физические свойства
Селезнева, Елена Вячеславовна · 2018 · Канд. наук · Институт кристаллографии им. А.В. Шубникова Российской академии наук
- Структурные аспекты фазовых переходов в кристаллах-суперпротониках
Макарова, Ирина Павловна · 2018 · Докт. наук · Институт кристаллографии им. А.В. Шубникова Российской академии наук
- Разработка алгоритмов морфологического анализа наночастиц в электронной микроскопии и установление механизма образования наночастиц в растворах полимеров
Шведченко, Дмитрий Олегович · 2018 · Канд. наук · Федеральный научно-исследовательский центр "Кристаллография и фотоника" РАН