Электронографическое исследование структуры двух- и трехкомпонентных полупроводниковых соединений (Cu₂O, α-Ag₂Se, Ag₇Te₄, AgSbTe₂, AgBiTe₂, AgTlTe₂, CuSbSe₂, AgTlSe₂)

  • 01.00.00 Физика и математика

АН СССР. Ин-т кристаллографии, Москва

119 стр.

Электронографическое исследование структуры двух- и трехкомпонентных полупроводниковых соединений (Cu₂O, α-Ag₂Se, Ag₇Te₄, AgSbTe₂, AgBiTe₂, AgTlTe₂, CuSbSe₂, AgTlSe₂) — Имамов, Рафик Мамедович — 1965 — Российская библиотека диссертаций