Фликкер-шумовая спектроскопия в параметризации структуры поверхности твёрдофазных систем в нанометровом диапазоне на основе данных атомно-силовой микроскопии

Научно-исследовательский физико-химический институт им. Л.Я. Карпова, Москва

94 стр.

Фликкер-шумовая спектроскопия в параметризации структуры поверхности твёрдофазных систем в нанометровом диапазоне на основе данных атомно-силовой микроскопии — Мисуркин, Павел Игоревич — 2012 — Российская библиотека диссертаций