Исследование ангармонизма кристаллической решетки полупроводников по температурной зависимости упругих постоянных и поглощению ультразвука

  • 01.00.00 Физика и математика

Моск. ин-т стали и сплавов, Москва

231 стр.

Исследование ангармонизма кристаллической решетки полупроводников по температурной зависимости упругих постоянных и поглощению ультразвука — Красильников, Олег Михайлович — 1970 — Российская библиотека диссертаций