Исследование дефектов структуры полупроводников методом внутреннего трения

  • 01.00.00 Физика и математика

АН СССР. Сиб. Отд-ние., Новосибирск

152 стр.

Исследование дефектов структуры полупроводников методом внутреннего трения — Зотов, Михаил Иванович — 1969 — Российская библиотека диссертаций