Исследование дефектов в монокристаллах кремния и германия методами рентгеновской дифракционной топографии

  • 01.00.00 Физика и математика

АН СССР. Ин-т полупроводников, Ленинград

209 стр.

Исследование дефектов в монокристаллах кремния и германия методами рентгеновской дифракционной топографии — Шульпина, Ирэн Леонидовна — 1968 — Российская библиотека диссертаций