Исследование и разработка методов контроля толщин пленок в процессе формирования многослойных интерференционных покрытий, наносимых напылением в вакууме

Другие работы по этой специальности

1. Эмиссионный спектральный анализ силикатных материалов

   Курьян, Николай Николаевич · 2026 · Канд. наук

   • 01.04.05 Оптика
2. Методы расчетов спектроскопических характеристик твердотельных активных сред и работы лазеров на их основе

   Ясюкевич, Анатолий Сергеевич · 2026 · Докт. наук

   • 01.04.05 Оптика
3. Расчёт оптических полей в микроструктурных волокнах

   Шилов, Артур Владимирович · 2026 · Канд. наук

   • 01.04.05 Оптика
4. Новые методы оптической диагностики тонких пленок

   Чудаков, Евгений Александрович · 2024 · Канд. наук

   • 01.04.05 Оптика
5. Развитие оптических спектральных методов диагностики материалов и процессов на основе многопараметрического подхода

   Ходасевич, Михаил Александрович · 2023 · Докт. наук · Институт физики имени Б. И. Степанова Национальной академии наук Беларуси

   • 01.04.05 Оптика

Все работы по специальности