Обложка работы «Исследование метрологических характеристик сканирующего туннельного микроскопа для изучения кластерных материалов». Автор: Шелковников, Евгений Юрьевич. Степень: Канд. наук. Год: 2000

Исследование метрологических характеристик сканирующего туннельного микроскопа для изучения кластерных материалов

Ижевск

177 стр.

Исследование метрологических характеристик сканирующего туннельного микроскопа для изучения кластерных материалов — Шелковников, Евгений Юрьевич — 2000 — Российская библиотека диссертаций