Исследование основных статистических показателей параметров транзисторов и особенности расчета допусков полупроводниковых схем

  • 05.00.00 Техника

Моск. авиац. ин-т им. Серго Орджоникидзе, Москва

239 стр.

Исследование основных статистических показателей параметров транзисторов и особенности расчета допусков полупроводниковых схем — Обичкин, Юрий Геннадиевич — 1966 — Российская библиотека диссертаций