Исследование сцинтилляционного метода бетатронной дефектоскопии и его применение для контроля толстостенных сварных соединений

  • 05.00.00 Техника

Томский политехн. ин-т им. С. М. Кирова, [Томск]

172 стр.

Исследование сцинтилляционного метода бетатронной дефектоскопии и его применение для контроля толстостенных сварных соединений — Покровский, Анатолий Валерьянович — 1967 — Российская библиотека диссертаций