Исследование условий образования структуры и физических свойств тонких пленок InSb (полученных методом дискретного испарения)

  • 01.00.00 Физика и математика

АН СССР. Ин-т кристаллографии, Москва

160 стр.

Исследование условий образования структуры и физических свойств тонких пленок InSb (полученных методом дискретного испарения) — Агаларзаде, Полад Сабирович — 1965 — Российская библиотека диссертаций