Обложка работы «Изучение возможностей применения технологии полупроводникового секвенирования в лабораторной диагностике синдрома Альпорта». Автор: Шагам, Лев Иосифович. Степень: Канд. наук. Год: 2017

Изучение возможностей применения технологии полупроводникового секвенирования в лабораторной диагностике синдрома Альпорта

Российский национальный исследовательский университет имени Н.И. Пирогова, Москва

177 стр.

Изучение возможностей применения технологии полупроводникового секвенирования в лабораторной диагностике синдрома Альпорта — Шагам, Лев Иосифович — 2017 — Российская библиотека диссертаций