Изыскание метода контроля идентичности оттисков при офсетной печати и разработка аппаратуры

  • 05.00.00 Техника

Моск. полигр. ин-т, Москва

244 стр.

Изыскание метода контроля идентичности оттисков при офсетной печати и разработка аппаратуры — Шипков, Ким Владимирович — 1965 — Российская библиотека диссертаций