Кинетика роста и разрушения филаментов и ее влияние на резистивное переключение в мемристивных системах на основе серебряных наночастиц

«Национальный исследовательский университет «Московский институт электронной техники» ; Диссовет 24.2.342.02 (Д 212.134.XX), Москва