Метод лазерной эллипсометрии и его применение для исследования параметров структур диэлектрик-полупроводник

Москва

25 стр.

Метод лазерной эллипсометрии и его применение для исследования параметров структур диэлектрик-полупроводник — Резвый, Ростислав Ростиславович — 1971 — Российская библиотека диссертаций