Обложка работы «Прогнозирование дозовой радиационной стойкости КМОП-микросхем на основе анализа вольт-амперных характеристик слоев диоксида кремния». Автор: Ширяев, Алексей Александрович. Степень: Канд. наук. Год: 2024

Прогнозирование дозовой радиационной стойкости КМОП-микросхем на основе анализа вольт-амперных характеристик слоев диоксида кремния

ФГБОУ ВО «Нижегородский государственный технический университет им. Р.Е. Алексеева» ; Диссовет 24.2.345.01 (Д 212.165.01), Нижний Новгород

131 стр.

Прогнозирование дозовой радиационной стойкости КМОП-микросхем на основе анализа вольт-амперных характеристик слоев диоксида кремния — Ширяев, Алексей Александрович — 2024 — Российская библиотека диссертаций