Разработка диффрактометрических методов решения некоторых основных задач рентгеноструктурного анализа

  • 01.00.00 Физика и математика

АН СССР. Ин-т кристаллографии, Москва

192 стр.

Разработка диффрактометрических методов решения некоторых основных задач рентгеноструктурного анализа — Хейкер, Даниэль Моисеевич — 1958 — Российская библиотека диссертаций