Разработка сверхвысокочастотных методов и аппаратуры для измерения параметров полупроводниковых материалов : (Применительно к измерению с помощью с. в. ч. электропроводности, ее температурной зависимости, радиац. фотопроводимости и времени рекомбинации носителей)

Ленинград

18 стр.

Разработка сверхвысокочастотных методов и аппаратуры для измерения параметров полупроводниковых материалов : (Применительно к измерению с помощью с. в. ч. электропроводности, ее температурной зависимости, радиац. фотопроводимости и времени рекомбинации носителей) — Маилов, Г. М. — 1971 — Российская библиотека диссертаций