Разработка сверхвысокочастотных методов и аппаратуры для измерения параметров полупроводниковых материалов : применительно к измерению с помощью СВЧ электропроводности, ее температурной зависимости, радиационной фотопроводимости и времени рекомбинации носителей

  • 05.00.00 Техника

Ленингр. ин-т авиац. приборостроения, Сухуми

165 стр.

Разработка сверхвысокочастотных методов и аппаратуры для измерения параметров полупроводниковых материалов : применительно к измерению с помощью СВЧ электропроводности, ее температурной зависимости, радиационной фотопроводимости и времени рекомбинации носителей — Маилов, Гарри Маркович — 1970 — Российская библиотека диссертаций