Разработка сверхвысокочастотных методов и аппаратуры для измерения параметров полупроводниковых материалов : применительно к измерению с помощью СВЧ электропроводности, ее температурной зависимости, радиационной фотопроводимости и времени рекомбинации носителей
- 05.00.00 Техника