Рентгенографическое исследование тонкой структуры фаз патентированной проволоки

  • 01.00.00 Физика и математика

Акад. наук УССР. Ин-т физики, Киев

158 стр.

Рентгенографическое исследование тонкой структуры фаз патентированной проволоки — Айзенцон, Ефим Григорьевич — 1953 — Российская библиотека диссертаций