Рентгеновская дифрактометрия реальной структуры монокристаллов и эпитаксиальных слоев на основе двумерного анализа интенсивности

Санкт-Петербург

440 стр.

Ключевые слова

рентгеновская дифрактометрия

Рентгеновская дифрактометрия реальной структуры монокристаллов и эпитаксиальных слоев на основе двумерного анализа интенсивности — Кютт, Регинальд Николаевич — 1995 — Российская библиотека диссертаций