Усовершенствование и развитие рентгеновских методов определения параметров тонкой кристаллической структуры поликристаллов с применением электронно-вычислительных машин

Москва

136 стр.

Усовершенствование и развитие рентгеновских методов определения параметров тонкой кристаллической структуры поликристаллов с применением электронно-вычислительных машин — Шишлянникова, Лидия Михайловна — 1977 — Российская библиотека диссертаций