Вопросы количественной оценки функциональной надежности транзисторных логических элементов на этапе проектирования : с помощью ЭЦВМ

  • 05.00.00 Техника

Ленингр. политехн. ин-т им. М. И. Калинина, Ленинград

190 стр.

Вопросы количественной оценки функциональной надежности транзисторных логических элементов на этапе проектирования : с помощью ЭЦВМ — Яковлев, Игорь Викторович — 1968 — Российская библиотека диссертаций