Аппаратура и методы электронно-зондового тестирования интегральных микросхем в режиме вторичной электронной эмиссии

Санкт-Петербург

165 стр.

Аппаратура и методы электронно-зондового тестирования интегральных микросхем в режиме вторичной электронной эмиссии — Вълков, Ивелин Цветанов — 1994 — Российская библиотека диссертаций