Исследование влияния глубоких примесей и облучения на электрофизические характеристики кремниевых диодов Шоттки частотно-емкостным методом

Ташкент

163 стр.

Исследование влияния глубоких примесей и облучения на электрофизические характеристики кремниевых диодов Шоттки частотно-емкостным методом — Шакиров, Увайс Асылханович — 1977 — Российская библиотека диссертаций