Измерение оптических постоянных и дифференциальная спектроскопия тонких пленок Na2KSb(Cs), Cs3Sb GaSe

Москва

187 стр.

Измерение оптических постоянных и дифференциальная спектроскопия тонких пленок Na2KSb(Cs), Cs3Sb GaSe — Кауфман, Игорь Хаимович — 1989 — Российская библиотека диссертаций