Количественный рентгеноспектральный микроанализ полупроводниковых материалов

Санкт-Петербург

224 стр.

Количественный рентгеноспектральный микроанализ полупроводниковых материалов — Во Тан Лонг — 1995 — Российская библиотека диссертаций