Обложка работы «Методы и средства повышения устойчивости к многократным сбоям ячеек статической памяти и комбинационных элементов микросхем с проектными нормами уровня 65 нм». Автор: Балбеков, Антон Олегович. Степень: Канд. наук. Год: 2022

Методы и средства повышения устойчивости к многократным сбоям ячеек статической памяти и комбинационных элементов микросхем с проектными нормами уровня 65 нм

ФГАОУ ВО «Национальный исследовательский ядерный университет «МИФИ», Москва

102 стр.