Обложка работы «Определение надёжности суб-100-нм КМОП ИС методом ускоренных испытаний тестовых структур, размещенных на полупроводниковой пластине». Автор: Сивченко, Александр Сергеевич. Степень: Канд. наук. Год: 2021

Определение надёжности суб-100-нм КМОП ИС методом ускоренных испытаний тестовых структур, размещенных на полупроводниковой пластине

ФГАОУ ВО «Национальный исследовательский университет «Московский институт электронной техники», Москва

193 стр.

Определение надёжности суб-100-нм КМОП ИС методом ускоренных испытаний тестовых структур, размещенных на полупроводниковой пластине — Сивченко, Александр Сергеевич — 2021 — Российская библиотека диссертаций