Применение ионизирующего излучения для ускоренных испытаний на надежность МОП интегральных микросхем

Национальный исследовательский ядерный университет, Москва

99 стр.

Применение ионизирующего излучения для ускоренных испытаний на надежность МОП интегральных микросхем — Чжо Ко Вин — 2013 — Российская библиотека диссертаций