Развитие методов сканирующей зондовой микроскопии для диагностики электрофизических параметров элементов хранения энергонезависимой памяти

Московский государственный институт радиотехники, электроники и автоматики, Москва

179 стр.

Развитие методов сканирующей зондовой микроскопии для диагностики электрофизических параметров элементов хранения энергонезависимой памяти — Шиколенко, Юрий Леонидович — 2015 — Российская библиотека диссертаций