Обложка работы «Структура тонких пленок материалов фазовой памяти на основе Ge-Sb-Te по данным электронной микроскопии». Автор: Зайцева, Юлия Сергеевна. Степень: Канд. наук. Год: 2021

Структура тонких пленок материалов фазовой памяти на основе Ge-Sb-Te по данным электронной микроскопии

ФГАОУ ВО «Национальный исследовательский университет «Московский институт электронной техники», Москва

149 стр.

Ключевые слова

фазовая память материалы

Структура тонких пленок материалов фазовой памяти на основе Ge-Sb-Te по данным электронной микроскопии — Зайцева, Юлия Сергеевна — 2021 — Российская библиотека диссертаций