Обложка работы «Влияние неоднородности толщины диэлектрика на свойства туннельных МОП структур Al/(1-4 нм)SiO2/Si». Автор: Тягинов, Станислав Эдуардович. Степень: Канд. наук. Год: 2006

Влияние неоднородности толщины диэлектрика на свойства туннельных МОП структур Al/(1-4 нм)SiO2/Si

Санкт-Петербург

146 стр.

Влияние неоднородности толщины диэлектрика на свойства туннельных МОП структур Al/(1-4 нм)SiO2/Si — Тягинов, Станислав Эдуардович — 2006 — Российская библиотека диссертаций