Обложка работы «Методы и средства моделирования и оценки радиационной стойкости микросхем флэш памяти». Автор: Васильев, Алексей Леонидович. Степень: Канд. наук. Год: 2010

Методы и средства моделирования и оценки радиационной стойкости микросхем флэш памяти

Нац. исслед. ядерный ун-т, Москва

142 стр.

Ключевые слова

флэш-память на микросхемах

Методы и средства моделирования и оценки радиационной стойкости микросхем флэш памяти — Васильев, Алексей Леонидович — 2010 — Российская библиотека диссертаций