Методы и средства оценки и прогнозирования сбоеустойчивости аналоговых интегральных микросхем при воздействии отдельных ядерных частиц

Национальный исследовательский ядерный университет, Москва

126 стр.

Ключевые слова

радиоэлектронная бортовая аппаратура КА

Методы и средства оценки и прогнозирования сбоеустойчивости аналоговых интегральных микросхем при воздействии отдельных ядерных частиц — Криницкий, Александр Васильевич — 2012 — Российская библиотека диссертаций