Методы и средства прогнозирования и обеспечения стойкости сегнетоэлектрических запоминающих устройств к воздействию радиационных факторов

Национальный исследовательский ядерный университет, Москва

134 стр.

Методы и средства прогнозирования и обеспечения стойкости сегнетоэлектрических запоминающих устройств к воздействию радиационных факторов — Орлов, Андрей Александрович — 2012 — Российская библиотека диссертаций