Проектирование элементов КМОП микросхем, выполненных по технологии "кремний на изоляторе" с проектными нормами 0,5-0,35 мкм, с повышенной стойкостью к воздействию тяжелых заряженных частиц

Национальный исследовательский ядерный университет, Москва

122 стр.

Проектирование элементов КМОП микросхем, выполненных по технологии "кремний на изоляторе" с проектными нормами 0,5-0,35 мкм, с повышенной стойкостью к воздействию тяжелых заряженных частиц — Шунков, Валерий Евгеньевич — 2012 — Российская библиотека диссертаций