Прогнозирование показателей стойкости изделий полупроводниковой электроники к воздействию импульсных ионизирующих излучений по результатам испытаний

Москва

234 стр.

Прогнозирование показателей стойкости изделий полупроводниковой электроники к воздействию импульсных ионизирующих излучений по результатам испытаний — Фигуров, Валерий Сергеевич — 2000 — Российская библиотека диссертаций